液晶与显示
液晶與顯示
액정여현시
CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS
2006年
5期
501-505
,共5页
劉聖烈%崔螢石%金奉柱%柳在一%李禹奉%李貞烈
劉聖烈%崔螢石%金奉柱%柳在一%李禹奉%李貞烈
류성렬%최형석%금봉주%류재일%리우봉%리정렬
液晶显示器%腐蚀%Al,Mo/Al/Mo%等离子体处理
液晶顯示器%腐蝕%Al,Mo/Al/Mo%等離子體處理
액정현시기%부식%Al,Mo/Al/Mo%등리자체처리
LCD%corrosion%Al,Mo/Al/Mo%plasma treatment
为了减少制造工艺的过程,改进的4-Mask工艺中采用Al基的数据线已得到进一步的完善.但这个工艺仍存在很多问题,主要是为减少工艺过程,而引入干法刻蚀对Al有腐蚀作用.本文应用CF4/O2等离子体处理,很好地阻止了对Al的腐蚀,得到很好的效果,对改进后4-Mask工艺的进一步应用具有非常重要的意义.
為瞭減少製造工藝的過程,改進的4-Mask工藝中採用Al基的數據線已得到進一步的完善.但這箇工藝仍存在很多問題,主要是為減少工藝過程,而引入榦法刻蝕對Al有腐蝕作用.本文應用CF4/O2等離子體處理,很好地阻止瞭對Al的腐蝕,得到很好的效果,對改進後4-Mask工藝的進一步應用具有非常重要的意義.
위료감소제조공예적과정,개진적4-Mask공예중채용Al기적수거선이득도진일보적완선.단저개공예잉존재흔다문제,주요시위감소공예과정,이인입간법각식대Al유부식작용.본문응용CF4/O2등리자체처리,흔호지조지료대Al적부식,득도흔호적효과,대개진후4-Mask공예적진일보응용구유비상중요적의의.
Improved 4-Mask process applied with Al based data line was developed in order to reduce manufacturing process. This process has several issues. Most of them are Al corrosion because of applying to dry etch for process step reduction. However, it brings a matter to a successfully settlement and meets with good results about Al corrosion prevention using CF4/O2 plasma treatment. Moreover, it brings successfully results to be applied to improved 4-Mask process.