基于辐射回避的SRAM型FPGA瞬时电离辐射效应测试系统研制
기우복사회피적SRAM형FPGA순시전리복사효응측시계통연제
Development of Test System for Transient Ionizing Radiation Effects on SRAM-Based FPGA Based on Radiation Evade Mechanism
  • 万方数据
    原子能科学技术 원자능과학기술
    ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY
    2012年 z1期 598-601 ,共4页

    齐超%林东生%陈伟%杨善潮%王桂珍%龚建成

    제초%림동생%진위%양선조%왕계진%공건성

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    介绍了瞬时电离辐射环境中SRAM型FPGA配置存储器测试的实现方法,提出了将辐射回避应用于FPGA瞬时电离辐射效应测试的方法,设计了可辐射回避的在线测试系统,并对FPGA进行了瞬时电离辐射效应实验.结果表明,测试系统能准确、可靠地进行配置存储器测试,辐射回避是实现大规模集成电路瞬时电离辐射效应测试的有效手段.
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