微电子学与计算机
微電子學與計算機
미전자학여계산궤
MICROELECTRONICS & COMPUTER
2004年
3期
88-91
,共4页
可寻址%测试访问机制%AMBA%系统芯片%功能测试
可尋阯%測試訪問機製%AMBA%繫統芯片%功能測試
가심지%측시방문궤제%AMBA%계통심편%공능측시
针对于目前系统芯片测试中加载测试矢量时间过长和测试面积开销较大的问题,阐述了一种基于系统复用总线传输的测试访问机制,同时详细描述了其硬件电路的实现和应用测试语言编写功能测试矢量进行测试实验的具体流程.通过实验数据比较显示,该测试架构有助于大量减小测试矢量加载时间和测试面积开销.
針對于目前繫統芯片測試中加載測試矢量時間過長和測試麵積開銷較大的問題,闡述瞭一種基于繫統複用總線傳輸的測試訪問機製,同時詳細描述瞭其硬件電路的實現和應用測試語言編寫功能測試矢量進行測試實驗的具體流程.通過實驗數據比較顯示,該測試架構有助于大量減小測試矢量加載時間和測試麵積開銷.
침대우목전계통심편측시중가재측시시량시간과장화측시면적개소교대적문제,천술료일충기우계통복용총선전수적측시방문궤제,동시상세묘술료기경건전로적실현화응용측시어언편사공능측시시량진행측시실험적구체류정.통과실험수거비교현시,해측시가구유조우대량감소측시시량가재시간화측시면적개소.