现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2011年
13期
74-77,80
,共5页
局部保持投影%特征提取%半监督%高光谱
跼部保持投影%特徵提取%半鑑督%高光譜
국부보지투영%특정제취%반감독%고광보
局部保持投影算法仅能保持近邻样本的局部结构,无法保证提取的特征有利于后续分类识别.为此,提出一种半监督保持投影特征提取算法.SPP算法能够利用标记样本所携带的类别信息来约束未标记样本,从而提高样本的可分性；同时,还在目标函数中加入一正则项,避免了因矩阵奇异导致算法无法求解的问题.利用实际高光谱数据进行对比实验,结果表明,用SPP算法进行特征提取后的分类精度较LPP算法有显著提升,验证了它的有效性.
跼部保持投影算法僅能保持近鄰樣本的跼部結構,無法保證提取的特徵有利于後續分類識彆.為此,提齣一種半鑑督保持投影特徵提取算法.SPP算法能夠利用標記樣本所攜帶的類彆信息來約束未標記樣本,從而提高樣本的可分性；同時,還在目標函數中加入一正則項,避免瞭因矩陣奇異導緻算法無法求解的問題.利用實際高光譜數據進行對比實驗,結果錶明,用SPP算法進行特徵提取後的分類精度較LPP算法有顯著提升,驗證瞭它的有效性.
국부보지투영산법부능보지근린양본적국부결구,무법보증제취적특정유리우후속분류식별.위차,제출일충반감독보지투영특정제취산법.SPP산법능구이용표기양본소휴대적유별신식래약속미표기양본,종이제고양본적가분성；동시,환재목표함수중가입일정칙항,피면료인구진기이도치산법무법구해적문제.이용실제고광보수거진행대비실험,결과표명,용SPP산법진행특정제취후적분류정도교LPP산법유현저제승,험증료타적유효성.
