金属学报
金屬學報
금속학보
ACTA METALLURGICA SINICA
2003年
6期
661-665
,共5页
刘凤尧%杨春利%林三宝%吴林%张清涛
劉鳳堯%楊春利%林三寶%吳林%張清濤
류봉요%양춘리%림삼보%오림%장청도
活性化TIG焊%表面张力%电弧电压%等离子体
活性化TIG銲%錶麵張力%電弧電壓%等離子體
활성화TIG한%표면장력%전호전압%등리자체
以不锈钢0Cr18Ni9为实验对象,涂敷含有Bi的SiO2和TiO2活性剂,通过1 mm厚高熔点薄钨板挡住熔池流动的方法进行焊接实验.对钨板两侧Bi颗粒的分布进行了测试,分析涂敷SiO2和TiO2后熔池流动方向的变化,同时采集了电弧电压.结果表明:活性剂SiO2和TiO2改变了熔池的流动方向;SiO2使电压提高约4.2 V,而TiO2对电弧电压没有影响;活性剂并未使电弧整体发生收缩,而使电弧整体发生了膨胀;SiO2使等离子体发生了收缩;电弧等离子体收缩和电弧导电通道变长是SiO2活性剂提高电弧电压的主要原因.分析认为,SiO2增加熔深是等离子体收缩、阳极斑点收缩和表面张力温度梯度由负变正共同作用的结果;TiO2增加熔深只是表面张力温度梯度由负变正的作用.
以不鏽鋼0Cr18Ni9為實驗對象,塗敷含有Bi的SiO2和TiO2活性劑,通過1 mm厚高鎔點薄鎢闆擋住鎔池流動的方法進行銲接實驗.對鎢闆兩側Bi顆粒的分佈進行瞭測試,分析塗敷SiO2和TiO2後鎔池流動方嚮的變化,同時採集瞭電弧電壓.結果錶明:活性劑SiO2和TiO2改變瞭鎔池的流動方嚮;SiO2使電壓提高約4.2 V,而TiO2對電弧電壓沒有影響;活性劑併未使電弧整體髮生收縮,而使電弧整體髮生瞭膨脹;SiO2使等離子體髮生瞭收縮;電弧等離子體收縮和電弧導電通道變長是SiO2活性劑提高電弧電壓的主要原因.分析認為,SiO2增加鎔深是等離子體收縮、暘極斑點收縮和錶麵張力溫度梯度由負變正共同作用的結果;TiO2增加鎔深隻是錶麵張力溫度梯度由負變正的作用.
이불수강0Cr18Ni9위실험대상,도부함유Bi적SiO2화TiO2활성제,통과1 mm후고용점박오판당주용지류동적방법진행한접실험.대오판량측Bi과립적분포진행료측시,분석도부SiO2화TiO2후용지류동방향적변화,동시채집료전호전압.결과표명:활성제SiO2화TiO2개변료용지적류동방향;SiO2사전압제고약4.2 V,이TiO2대전호전압몰유영향;활성제병미사전호정체발생수축,이사전호정체발생료팽창;SiO2사등리자체발생료수축;전호등리자체수축화전호도전통도변장시SiO2활성제제고전호전압적주요원인.분석인위,SiO2증가용심시등리자체수축、양겁반점수축화표면장력온도제도유부변정공동작용적결과;TiO2증가용심지시표면장력온도제도유부변정적작용.
