核技术
覈技術
핵기술
NUCLEAR TECHNIQUES
2006年
9期
665-669
,共5页
李爱武%余学峰%任迪远%汪东%匡治兵%刘刚
李愛武%餘學峰%任迪遠%汪東%劻治兵%劉剛
리애무%여학봉%임적원%왕동%광치병%류강
互补型金属-氧化物-半导体(CMOS)器件%总剂量辐照%阈电压%统计
互補型金屬-氧化物-半導體(CMOS)器件%總劑量輻照%閾電壓%統計
호보형금속-양화물-반도체(CMOS)기건%총제량복조%역전압%통계
本文采用统计分析的方法对大样本互补型金属-氧化物-半导体器件(CMOS)CC4069电路辐照前后的数据进行了处理.比较了研究变量的晶体管阈电压值在辐照前和累积一定辐照剂量后的标准差及统计分布,研究了样品阈电压漂移值的分布规律,由此对应用于航天系统的电子元器件进行有关辐射可靠性筛选的必要性进行了探讨.
本文採用統計分析的方法對大樣本互補型金屬-氧化物-半導體器件(CMOS)CC4069電路輻照前後的數據進行瞭處理.比較瞭研究變量的晶體管閾電壓值在輻照前和纍積一定輻照劑量後的標準差及統計分佈,研究瞭樣品閾電壓漂移值的分佈規律,由此對應用于航天繫統的電子元器件進行有關輻射可靠性篩選的必要性進行瞭探討.
본문채용통계분석적방법대대양본호보형금속-양화물-반도체기건(CMOS)CC4069전로복조전후적수거진행료처리.비교료연구변량적정체관역전압치재복조전화루적일정복조제량후적표준차급통계분포,연구료양품역전압표이치적분포규률,유차대응용우항천계통적전자원기건진행유관복사가고성사선적필요성진행료탐토.
