电子技术应用
電子技術應用
전자기술응용
APPLICATION OF ELECTRONIC TECHNIQUE
2009年
8期
100-103
,共4页
片上系统%测试环%测试访问机制%IP核
片上繫統%測試環%測試訪問機製%IP覈
편상계통%측시배%측시방문궤제%IP핵
讨论了IEEE P1500测试架构,详细分析并实现了IP核的测试环(Wrapper)结构,给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构.该结构能控制基于总线结构的TAM以及P1500 Wrapper,通过芯片级CTAP控制器,支持串行或并行测试访问,实现了核内测试以及核间互连测试.同时该结构只需5根额外测试管脚.
討論瞭IEEE P1500測試架構,詳細分析併實現瞭IP覈的測試環(Wrapper)結構,給齣瞭一種支持該標準的芯片級測試控製結構.該結構能控製基于總線結構的TAM以及P1500 Wrapper,通過芯片級CTAP控製器,支持串行或併行測試訪問,實現瞭覈內測試以及覈間互連測試.同時該結構隻需5根額外測試管腳.
토론료IEEE P1500측시가구,상세분석병실현료IP핵적측시배(Wrapper)결구,급출료일충지지해표준적심편급측시공제결구.해결구능공제기우총선결구적TAM이급P1500 Wrapper,통과심편급CTAP공제기,지지천행혹병행측시방문,실현료핵내측시이급핵간호련측시.동시해결구지수5근액외측시관각.
