电子显微学报
電子顯微學報
전자현미학보
JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY
2002年
4期
416-421
,共6页
王晓平%李凡庆%吴自勤
王曉平%李凡慶%吳自勤
왕효평%리범경%오자근
扫描电子显微术%扫描探针显微术%微分析%互补性
掃描電子顯微術%掃描探針顯微術%微分析%互補性
소묘전자현미술%소묘탐침현미술%미분석%호보성
本文介绍扫描电子显微术(SEM)和扫描探针显微术(SPM)这两种最常用的微分析方法的新进展.简述了它们各自的构成、工作原理、应用功能及在研究工作中的互补性.
本文介紹掃描電子顯微術(SEM)和掃描探針顯微術(SPM)這兩種最常用的微分析方法的新進展.簡述瞭它們各自的構成、工作原理、應用功能及在研究工作中的互補性.
본문개소소묘전자현미술(SEM)화소묘탐침현미술(SPM)저량충최상용적미분석방법적신진전.간술료타문각자적구성、공작원리、응용공능급재연구공작중적호보성.
