光电子·激光
光電子·激光
광전자·격광
JOURNAL OF OPTOECTRONICS·LASER
2008年
3期
369-372
,共4页
双折射光纤%拍长%磁光调制%起偏方式%检偏方式%测试灵敏度
雙摺射光纖%拍長%磁光調製%起偏方式%檢偏方式%測試靈敏度
쌍절사광섬%박장%자광조제%기편방식%검편방식%측시령민도
研究了光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响.通过理论分析与实验研究,发现有三种测试方式均能得到最大灵敏度:1) 入射线偏振光的偏振方向与光纤双折射主轴夹角θ为0°或90°,同时Wollaston棱镜的两个检偏主轴与保偏光纤的双折射主轴夹角γ为45°;2) 入射线偏振光θ= 45°,同时γ=0°或90°;3) 入射光为圆偏振光,同时γ=0°或90°.三种情况下的测试灵敏度基本相等,但是第三种实验方式不需要在入射端精确定位光纤的双折射主轴方向,简化了实验过程,并可避免角度调节所引入的测量误差.理论分析与实验数据基本一致.
研究瞭光纖拍長磁光調製法測試繫統中,對于給定的磁隙寬度和磁場彊度,起偏方式與檢偏方式對拍長測試靈敏度的影響.通過理論分析與實驗研究,髮現有三種測試方式均能得到最大靈敏度:1) 入射線偏振光的偏振方嚮與光纖雙摺射主軸夾角θ為0°或90°,同時Wollaston稜鏡的兩箇檢偏主軸與保偏光纖的雙摺射主軸夾角γ為45°;2) 入射線偏振光θ= 45°,同時γ=0°或90°;3) 入射光為圓偏振光,同時γ=0°或90°.三種情況下的測試靈敏度基本相等,但是第三種實驗方式不需要在入射耑精確定位光纖的雙摺射主軸方嚮,簡化瞭實驗過程,併可避免角度調節所引入的測量誤差.理論分析與實驗數據基本一緻.
연구료광섬박장자광조제법측시계통중,대우급정적자극관도화자장강도,기편방식여검편방식대박장측시령민도적영향.통과이론분석여실험연구,발현유삼충측시방식균능득도최대령민도:1) 입사선편진광적편진방향여광섬쌍절사주축협각θ위0°혹90°,동시Wollaston릉경적량개검편주축여보편광섬적쌍절사주축협각γ위45°;2) 입사선편진광θ= 45°,동시γ=0°혹90°;3) 입사광위원편진광,동시γ=0°혹90°.삼충정황하적측시령민도기본상등,단시제삼충실험방식불수요재입사단정학정위광섬적쌍절사주축방향,간화료실험과정,병가피면각도조절소인입적측량오차.이론분석여실험수거기본일치.
