分析仪器
分析儀器
분석의기
ANALYTICAL INSTRUMENTATION
2012年
3期
62-64
,共3页
扫描电子显微镜%荷电效应%边缘效应%电子束损伤
掃描電子顯微鏡%荷電效應%邊緣效應%電子束損傷
소묘전자현미경%하전효응%변연효응%전자속손상
在介绍扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及特点基础之上,重点阐述了荷电效应、边缘效应、电子束损伤对分散类样品所造成的图像缺陷及相应的解决方法.
在介紹掃描電子顯微鏡(SEM)的工作原理及特點基礎之上,重點闡述瞭荷電效應、邊緣效應、電子束損傷對分散類樣品所造成的圖像缺陷及相應的解決方法.
재개소소묘전자현미경(SEM)적공작원리급특점기출지상,중점천술료하전효응、변연효응、전자속손상대분산류양품소조성적도상결함급상응적해결방법.