电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2004年
1期
98-101
,共4页
Multi-capture结构%多扫描链%最小相关度
Multi-capture結構%多掃描鏈%最小相關度
Multi-capture결구%다소묘련%최소상관도
提出了一种基于多扫描链Multi-capture结构的扫描链优化算法,通过构造具有最小相关度的多扫描链结构,并利用Multi-capture内部响应复用为激励以侦测故障的原理,达到极大压缩测试向量长度的目的.实验结果表明,该优化算法平均优化率可以达到30%左右.
提齣瞭一種基于多掃描鏈Multi-capture結構的掃描鏈優化算法,通過構造具有最小相關度的多掃描鏈結構,併利用Multi-capture內部響應複用為激勵以偵測故障的原理,達到極大壓縮測試嚮量長度的目的.實驗結果錶明,該優化算法平均優化率可以達到30%左右.
제출료일충기우다소묘련Multi-capture결구적소묘련우화산법,통과구조구유최소상관도적다소묘련결구,병이용Multi-capture내부향응복용위격려이정측고장적원리,체도겁대압축측시향량장도적목적.실험결과표명,해우화산법평균우화솔가이체도30%좌우.
