航天控制
航天控製
항천공제
AEROSPACE CONTROL
2011年
5期
67-71
,共5页
伊小素%邓燕%潘雄%江云天%张家铭
伊小素%鄧燕%潘雄%江雲天%張傢銘
이소소%산연%반웅%강운천%장가명
SEU%EDAC%可靠性模型%BRAM
SEU%EDAC%可靠性模型%BRAM
SEU%EDAC%가고성모형%BRAM
SRAM型FPGA内部高密度BRAM存储模块作为用户存储资源,在空间运行中易受单粒子翻转效应影响,造成用户数据失效,EDAC技术被广泛采用作为其容错手段.对于商用型SRAM - FPGA,编码/解码模块可靠性对EDAC容错技术有效性具有很大影响,因此本文在考虑编码/解码模块可靠性影响情况下,对商用SRAM - FPGA内嵌BRAM存储器进行EDAC容错技术可靠性建模,并得到提高BRAM可靠性需满足的编码/解码模块的可靠生参数限制条件关系式,最后通过仿真验证其模型的合理性及限制条件关系式的正确性,为相关工程设计中SRAM型FPGA的BRAM存储器EDAC容错技术的可行性设计提供指导
SRAM型FPGA內部高密度BRAM存儲模塊作為用戶存儲資源,在空間運行中易受單粒子翻轉效應影響,造成用戶數據失效,EDAC技術被廣汎採用作為其容錯手段.對于商用型SRAM - FPGA,編碼/解碼模塊可靠性對EDAC容錯技術有效性具有很大影響,因此本文在攷慮編碼/解碼模塊可靠性影響情況下,對商用SRAM - FPGA內嵌BRAM存儲器進行EDAC容錯技術可靠性建模,併得到提高BRAM可靠性需滿足的編碼/解碼模塊的可靠生參數限製條件關繫式,最後通過倣真驗證其模型的閤理性及限製條件關繫式的正確性,為相關工程設計中SRAM型FPGA的BRAM存儲器EDAC容錯技術的可行性設計提供指導
SRAM형FPGA내부고밀도BRAM존저모괴작위용호존저자원,재공간운행중역수단입자번전효응영향,조성용호수거실효,EDAC기술피엄범채용작위기용착수단.대우상용형SRAM - FPGA,편마/해마모괴가고성대EDAC용착기술유효성구유흔대영향,인차본문재고필편마/해마모괴가고성영향정황하,대상용SRAM - FPGA내감BRAM존저기진행EDAC용착기술가고성건모,병득도제고BRAM가고성수만족적편마/해마모괴적가고생삼수한제조건관계식,최후통과방진험증기모형적합이성급한제조건관계식적정학성,위상관공정설계중SRAM형FPGA적BRAM존저기EDAC용착기술적가행성설계제공지도
