光电子·激光
光電子·激光
광전자·격광
JOURNAL OF OPTOECTRONICS·LASER
2004年
3期
279-282
,共4页
谢登科%齐国生%徐端颐%张启程
謝登科%齊國生%徐耑頤%張啟程
사등과%제국생%서단이%장계정
抖晃%测量%光盘%边沿检测技术%脉冲计数
抖晃%測量%光盤%邊沿檢測技術%脈遲計數
두황%측량%광반%변연검측기술%맥충계수
在脉冲计数法的基础上结合边沿检测技术,设计了一种可用于高倍速的光盘抖晃测试系统,代替传统的时间间隔分析仪(TIA).系统最大测量误差仅504 ps,最高可工作在32倍速下.基于现场可编程门阵列FPGA芯片实现,结构简单、精度高、成本低及测试速度快,在盘片质量检测和抖晃特性研究领域有广泛的应用前景和实用价值.
在脈遲計數法的基礎上結閤邊沿檢測技術,設計瞭一種可用于高倍速的光盤抖晃測試繫統,代替傳統的時間間隔分析儀(TIA).繫統最大測量誤差僅504 ps,最高可工作在32倍速下.基于現場可編程門陣列FPGA芯片實現,結構簡單、精度高、成本低及測試速度快,在盤片質量檢測和抖晃特性研究領域有廣汎的應用前景和實用價值.
재맥충계수법적기출상결합변연검측기술,설계료일충가용우고배속적광반두황측시계통,대체전통적시간간격분석의(TIA).계통최대측량오차부504 ps,최고가공작재32배속하.기우현장가편정문진렬FPGA심편실현,결구간단、정도고、성본저급측시속도쾌,재반편질량검측화두황특성연구영역유엄범적응용전경화실용개치.
