电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2007年
1期
202-205,209
,共5页
邢克飞%杨俊%周永彬%季金明
邢剋飛%楊俊%週永彬%季金明
형극비%양준%주영빈%계금명
辐射效应%可靠性%加固设计%SRAM型FPGA
輻射效應%可靠性%加固設計%SRAM型FPGA
복사효응%가고성%가고설계%SRAM형FPGA
结合实际工程实践,给出了解决常见的FPGA辐射失效问题的一些方法;分析了辐射效应对FPGA综合过程中经常出现的Half-latch的影响,并给出了几种设计时需要考虑的解决方法;最后提出了一种基于低等级FPGA器件的"由顶到底"的星载信号处理平台结构,分析了这种结构在对付辐射效应时的优势.给出的有关大规模可配置电子器件的设计方法可以为航天电子设备的设计提供参考.
結閤實際工程實踐,給齣瞭解決常見的FPGA輻射失效問題的一些方法;分析瞭輻射效應對FPGA綜閤過程中經常齣現的Half-latch的影響,併給齣瞭幾種設計時需要攷慮的解決方法;最後提齣瞭一種基于低等級FPGA器件的"由頂到底"的星載信號處理平檯結構,分析瞭這種結構在對付輻射效應時的優勢.給齣的有關大規模可配置電子器件的設計方法可以為航天電子設備的設計提供參攷.
결합실제공정실천,급출료해결상견적FPGA복사실효문제적일사방법;분석료복사효응대FPGA종합과정중경상출현적Half-latch적영향,병급출료궤충설계시수요고필적해결방법;최후제출료일충기우저등급FPGA기건적"유정도저"적성재신호처리평태결구,분석료저충결구재대부복사효응시적우세.급출적유관대규모가배치전자기건적설계방법가이위항천전자설비적설계제공삼고.