电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2004年
4期
8-11
,共4页
李志国%李杰%郭春生%程尧海
李誌國%李傑%郭春生%程堯海
리지국%리걸%곽춘생%정요해
微电子器件%失效机理%快速评价
微電子器件%失效機理%快速評價
미전자기건%실효궤리%쾌속평개
提出了一种新的微电子器件快速评价方法,具有快速、准确、成本低、能观察分析参数退化的全过程,能有效地分析器件的失效机理.它与常规方法不同,可对单样品求出不同失效阶段的失效激活能和寿命,根据其参数退化的温度范围可外推出单样品工作条件下的寿命.通过一定数量的对比试验,该方法与常规方法有可比性.
提齣瞭一種新的微電子器件快速評價方法,具有快速、準確、成本低、能觀察分析參數退化的全過程,能有效地分析器件的失效機理.它與常規方法不同,可對單樣品求齣不同失效階段的失效激活能和壽命,根據其參數退化的溫度範圍可外推齣單樣品工作條件下的壽命.通過一定數量的對比試驗,該方法與常規方法有可比性.
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