微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2008年
5期
19-20,23
,共3页
测试成本%测试时间%程序优化
測試成本%測試時間%程序優化
측시성본%측시시간%정서우화
介绍了在ETS770测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法.通过具体数据说明应用不同的测试方法所用时间大不相同.利用适当的测试方法和测试技术可大大减少测试程序的运行时间,降低测试成本.
介紹瞭在ETS770測試繫統上對集成電路測試程序進行優化的方法.通過具體數據說明應用不同的測試方法所用時間大不相同.利用適噹的測試方法和測試技術可大大減少測試程序的運行時間,降低測試成本.
개소료재ETS770측시계통상대집성전로측시정서진행우화적방법.통과구체수거설명응용불동적측시방법소용시간대불상동.이용괄당적측시방법화측시기술가대대감소측시정서적운행시간,강저측시성본.
