塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定
소봉미전로재고가고영역적응용、사선여감정
The Application, Screening and Qualification of Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) in High Relibility Field
  • 万方数据
    电子产品可靠性与环境试验 전자산품가고성여배경시험
    ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
    2007年 5期 48-51 ,共4页

    周军连%王蕴辉%唐云

    주군련%왕온휘%당운

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    소봉미전로%사선%감정%시험
    主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.
    주요개소료소봉미전로(PEM)재고가고영역적응용,병총결료JPL화NASA실험실추천적사선여감정시험정서,제출료재고가고영역사용PEM시응고필인소,지재위아고가고영역응용PEM제공가차감적시험방법.
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