嵌入式存储器内建自测试的原理及实现
감입식존저기내건자측시적원리급실현
Principle and Implementation of Embedded Memory Built-in Self-test
  • 万方数据
    固体电子学研究与进展 고체전자학연구여진전
    RESEARCH & PROGRESS OF SOLID STATE ELECTRONICS
    2004年 2期 205-208 ,共4页

    陆思安%何乐年%沈海斌%严晓浪

    륙사안%하악년%침해빈%엄효랑

    嵌入式存储器%存储器内建自测试%March算法 嵌入式存儲器%存儲器內建自測試%March算法
    감입식존저기%존저기내건자측시%March산법
    随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现.
    수착집성전로설계규모적불단증대.재심편중특별시재계통심편SOC(system on a chip)중감입대량존저기적설계방법정변득월래월중요.문중상세분석료감입식존저기내건자측시적실현원리,병급출료존저기내건자측시적일충전형실현.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문