上海交通大学学报
上海交通大學學報
상해교통대학학보
JOURNAL OF SHANGHAI JIAOTONG UNIVERSITY
2007年
11期
1774-1777,1782
,共5页
片上系统芯片%可测试设计%测试功耗%分割%遗传算法
片上繫統芯片%可測試設計%測試功耗%分割%遺傳算法
편상계통심편%가측시설계%측시공모%분할%유전산법
基于遗传算法,建立了片上系统芯片(SOC)的图模型,对逻辑级的SOC结构进行精确量化;然后,对模型应用遗传算法进行分析,得到了电路的理想分割结果;最后,基于分割结果,实现一颗SOC的可测试设计(DFT).实验结果表明,在分割的均匀度与附加电路代价方面,该方法相比原有的DFT方法有显著的改进.
基于遺傳算法,建立瞭片上繫統芯片(SOC)的圖模型,對邏輯級的SOC結構進行精確量化;然後,對模型應用遺傳算法進行分析,得到瞭電路的理想分割結果;最後,基于分割結果,實現一顆SOC的可測試設計(DFT).實驗結果錶明,在分割的均勻度與附加電路代價方麵,該方法相比原有的DFT方法有顯著的改進.
기우유전산법,건립료편상계통심편(SOC)적도모형,대라집급적SOC결구진행정학양화;연후,대모형응용유전산법진행분석,득도료전로적이상분할결과;최후,기우분할결과,실현일과SOC적가측시설계(DFT).실험결과표명,재분할적균균도여부가전로대개방면,해방법상비원유적DFT방법유현저적개진.
