电子显微学报
電子顯微學報
전자현미학보
JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY
2007年
6期
513-519
,共7页
电子显微镜%电子衍射%结构%缺陷%电荷分布
電子顯微鏡%電子衍射%結構%缺陷%電荷分佈
전자현미경%전자연사%결구%결함%전하분포
作者开发了一种新的电子衍射技术来测量大单胞复杂晶体的电荷密度.该技术是在透射电子显微镜中把电子束聚焦在样品的上方从而在很多Bragg衍射盘中得到阴影像(简称为PARODI).对于楔型晶体,该技术提供了可同时记录许多衍射的厚度条纹的方法,它确保了所有衍射盘中的厚度变化和入射方向等实验条件是相同的.PARODI技术还被进一步扩展到使用相干光源这一新领域并用来精确测定晶体中缺陷的位移矢量.本文用该技术研究了Bi-2212高温超导体中的层错和扭转晶界并观察到了由面缺陷引起的相干条纹.通过使用相干PARODI技术,测量的Bi-2212中面缺陷的位移矢量的精度达到了1皮米(10-12 m),这是目前在测量缺陷位移方面达到的最高精度,比以前的技术提高了将近一个数量级.
作者開髮瞭一種新的電子衍射技術來測量大單胞複雜晶體的電荷密度.該技術是在透射電子顯微鏡中把電子束聚焦在樣品的上方從而在很多Bragg衍射盤中得到陰影像(簡稱為PARODI).對于楔型晶體,該技術提供瞭可同時記錄許多衍射的厚度條紋的方法,它確保瞭所有衍射盤中的厚度變化和入射方嚮等實驗條件是相同的.PARODI技術還被進一步擴展到使用相榦光源這一新領域併用來精確測定晶體中缺陷的位移矢量.本文用該技術研究瞭Bi-2212高溫超導體中的層錯和扭轉晶界併觀察到瞭由麵缺陷引起的相榦條紋.通過使用相榦PARODI技術,測量的Bi-2212中麵缺陷的位移矢量的精度達到瞭1皮米(10-12 m),這是目前在測量缺陷位移方麵達到的最高精度,比以前的技術提高瞭將近一箇數量級.
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