半导体学报
半導體學報
반도체학보
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
2007年
6期
938-942
,共5页
热安全工作%最高温度%开关频率
熱安全工作%最高溫度%開關頻率
열안전공작%최고온도%개관빈솔
研究了LDMOS器件内部的最高温度与开关频率之间的关系.结果表明:在较高频率工作时,器件内部的最高温度与器件的热容、功耗、占空比和连续工作时间有关,而与器件的热阻和信号周期无关,器件会一直处于升温状态;在较低频率工作时,器件内部的最高温度还与器件的热阻和周期有关.所得结果可作为功率器件在各种频率下工作时热安全工作的参考.
研究瞭LDMOS器件內部的最高溫度與開關頻率之間的關繫.結果錶明:在較高頻率工作時,器件內部的最高溫度與器件的熱容、功耗、佔空比和連續工作時間有關,而與器件的熱阻和信號週期無關,器件會一直處于升溫狀態;在較低頻率工作時,器件內部的最高溫度還與器件的熱阻和週期有關.所得結果可作為功率器件在各種頻率下工作時熱安全工作的參攷.
연구료LDMOS기건내부적최고온도여개관빈솔지간적관계.결과표명:재교고빈솔공작시,기건내부적최고온도여기건적열용、공모、점공비화련속공작시간유관,이여기건적열조화신호주기무관,기건회일직처우승온상태;재교저빈솔공작시,기건내부적최고온도환여기건적열조화주기유관.소득결과가작위공솔기건재각충빈솔하공작시열안전공작적삼고.
