计算机集成制造系统
計算機集成製造繫統
계산궤집성제조계통
COMPUTER INTEGRATED MANUFACTURING SYSTEMS
2006年
10期
1693-1697
,共5页
系统级芯片%测试调度%知识产权核%测试访问机制%遗传算法%差分进化
繫統級芯片%測試調度%知識產權覈%測試訪問機製%遺傳算法%差分進化
계통급심편%측시조도%지식산권핵%측시방문궤제%유전산법%차분진화
为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间,提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法.在该方法中,建立了最优测试调度的遗传算法模型.为了使算法过程更稳健,更快地趋近于全局最优解,在传统遗传算法的基础上引入了差分进化、精英策略、自适应变异等几种机制,并通过实验与基于整数线性规划的测试调度方法进行比较,结果表明,所需的测试时钟周期数较少,适应于测试大规模系统级芯片.
為瞭縮短採用繫統級芯片設計的電子產品的測試時間,提齣瞭一種基于遺傳算法的繫統級芯片測試調度總線指定方法.在該方法中,建立瞭最優測試調度的遺傳算法模型.為瞭使算法過程更穩健,更快地趨近于全跼最優解,在傳統遺傳算法的基礎上引入瞭差分進化、精英策略、自適應變異等幾種機製,併通過實驗與基于整數線性規劃的測試調度方法進行比較,結果錶明,所需的測試時鐘週期數較少,適應于測試大規模繫統級芯片.
위료축단채용계통급심편설계적전자산품적측시시간,제출료일충기우유전산법적계통급심편측시조도총선지정방법.재해방법중,건립료최우측시조도적유전산법모형.위료사산법과정경은건,경쾌지추근우전국최우해,재전통유전산법적기출상인입료차분진화、정영책략、자괄응변이등궤충궤제,병통과실험여기우정수선성규화적측시조도방법진행비교,결과표명,소수적측시시종주기수교소,괄응우측시대규모계통급심편.
