Si-PIN硅条带探测器的电子学测试
Si-PIN규조대탐측기적전자학측시
Test of Si-PIN strip detector by electronic method
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2007年 2期 170-173 ,共4页

    邹鸿%陈鸿飞%邹积清%宁宝俊%施伟红%田大宇%张录

    추홍%진홍비%추적청%저보준%시위홍%전대우%장록

    硅条带探测器%空间粒子探测%耗尽电容%条间串扰 硅條帶探測器%空間粒子探測%耗儘電容%條間串擾
    규조대탐측기%공간입자탐측%모진전용%조간천우
    采用电子学等效方法对所研制的Si-PIN条带探测器的基本性能进行测试.Si-PIN条带探测器是在一个硅基片上刻蚀多个条带探测器,常用于空间探测中的粒子方向测量.介绍了对Si-PIN条带探测器电子学等效测试方法和结果,重点探讨了条带之间的串扰问题.
    채용전자학등효방법대소연제적Si-PIN조대탐측기적기본성능진행측시.Si-PIN조대탐측기시재일개규기편상각식다개조대탐측기,상용우공간탐측중적입자방향측량.개소료대Si-PIN조대탐측기전자학등효측시방법화결과,중점탐토료조대지간적천우문제.
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