微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2008年
1期
14-15
,共2页
测试%存储器%测试向量
測試%存儲器%測試嚮量
측시%존저기%측시향량
随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要.下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量.
隨著半導體存儲器嚮多品種、高速和高集成化等方嚮髮展,測試問題顯得越來越突齣和重要.下麵主要介紹瞭存儲器電路的分類,以及存儲器電路的測試參數和測試嚮量.
수착반도체존저기향다품충、고속화고집성화등방향발전,측시문제현득월래월돌출화중요.하면주요개소료존저기전로적분류,이급존저기전로적측시삼수화측시향량.
