化工时刊
化工時刊
화공시간
CHEMICAL INDUSTRY TIMES
2011年
1期
18-21
,共4页
杜保安%郭红%高璐%贾红霞%杜艳君
杜保安%郭紅%高璐%賈紅霞%杜豔君
두보안%곽홍%고로%가홍하%두염군
CdTe/CdS%荧光强度%核壳量子点
CdTe/CdS%熒光彊度%覈殼量子點
CdTe/CdS%형광강도%핵각양자점
在水相中制备了不同壳层厚度的核壳型半导体CdTe/CdS量子点,通过荧光光谱(PL)分析、原子力显微镜(AFM)和X-射线粉末衍射 (XRD)光谱分析对产物进行了表征.实验结果表明:反应时间、温度、硫化钠浓度和NaOH的量对CdTe/CdS量子点的壳层厚度和荧光强度都有很大影响.
在水相中製備瞭不同殼層厚度的覈殼型半導體CdTe/CdS量子點,通過熒光光譜(PL)分析、原子力顯微鏡(AFM)和X-射線粉末衍射 (XRD)光譜分析對產物進行瞭錶徵.實驗結果錶明:反應時間、溫度、硫化鈉濃度和NaOH的量對CdTe/CdS量子點的殼層厚度和熒光彊度都有很大影響.
재수상중제비료불동각층후도적핵각형반도체CdTe/CdS양자점,통과형광광보(PL)분석、원자력현미경(AFM)화X-사선분말연사 (XRD)광보분석대산물진행료표정.실험결과표명:반응시간、온도、류화납농도화NaOH적량대CdTe/CdS양자점적각층후도화형광강도도유흔대영향.
