电子显微学报
電子顯微學報
전자현미학보
JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY
2007年
6期
576-581
,共6页
王春梅%井藤浩志%孙洁林%胡钧%沈电洪%一村信吾
王春梅%井籐浩誌%孫潔林%鬍鈞%瀋電洪%一村信吾
왕춘매%정등호지%손길림%호균%침전홍%일촌신오
标准化%扫描探针显微镜领域%计量型原子力显微镜%针尖特性表征结构%超晶格
標準化%掃描探針顯微鏡領域%計量型原子力顯微鏡%針尖特性錶徵結構%超晶格
표준화%소묘탐침현미경영역%계량형원자력현미경%침첨특성표정결구%초정격
standardization%SPM%metrological AFM%tip characterizer%superlattice
标准化是当前扫描探针显微镜领域(SPM)的一项重要工作.国际标准化组织ISO自2004年起已经将SPM标准化列入其工作框架之内,并建立了相关的分委员会、技术委员会和工作小组.本文介绍了国际上当前有关SPM标准化方面努力和主要趋势:SPM术语的标准化被认为是SPM标准化工作范围内首先需要考虑的问题,其相关标准即将发表;SPM数据管理及处理的标准化则是另一项正在进行的有利于数据访问、处理和共享的重要工作.可溯源计量型原子力显微镜(AFM)的发展解决了纳米尺度的度量问题,能够通过对标准物质进行定量分析与定标实现量值的传递.当前发展能够被计量型AFM鉴定的参考物质以及标准化仪器校正过程是实现SPM标准化之前的当务之急.为了促进SPM领域ISO标准的实现,一种新的针尖特性表征结构(tip characterizer)已经被开发出来.这种tip characterizer由超晶格组装技术实现,能够描述针尖的形状并且同时进行侧向尺度的校正.本文探讨了这种新型tip characterizer的性能.这种tip characterizer不易损坏针尖,具有很好的重复性,并能帮助实验观察分析针尖形状和结构几何特性之间的关系.
標準化是噹前掃描探針顯微鏡領域(SPM)的一項重要工作.國際標準化組織ISO自2004年起已經將SPM標準化列入其工作框架之內,併建立瞭相關的分委員會、技術委員會和工作小組.本文介紹瞭國際上噹前有關SPM標準化方麵努力和主要趨勢:SPM術語的標準化被認為是SPM標準化工作範圍內首先需要攷慮的問題,其相關標準即將髮錶;SPM數據管理及處理的標準化則是另一項正在進行的有利于數據訪問、處理和共享的重要工作.可溯源計量型原子力顯微鏡(AFM)的髮展解決瞭納米呎度的度量問題,能夠通過對標準物質進行定量分析與定標實現量值的傳遞.噹前髮展能夠被計量型AFM鑒定的參攷物質以及標準化儀器校正過程是實現SPM標準化之前的噹務之急.為瞭促進SPM領域ISO標準的實現,一種新的針尖特性錶徵結構(tip characterizer)已經被開髮齣來.這種tip characterizer由超晶格組裝技術實現,能夠描述針尖的形狀併且同時進行側嚮呎度的校正.本文探討瞭這種新型tip characterizer的性能.這種tip characterizer不易損壞針尖,具有很好的重複性,併能幫助實驗觀察分析針尖形狀和結構幾何特性之間的關繫.
표준화시당전소묘탐침현미경영역(SPM)적일항중요공작.국제표준화조직ISO자2004년기이경장SPM표준화렬입기공작광가지내,병건립료상관적분위원회、기술위원회화공작소조.본문개소료국제상당전유관SPM표준화방면노력화주요추세:SPM술어적표준화피인위시SPM표준화공작범위내수선수요고필적문제,기상관표준즉장발표;SPM수거관리급처리적표준화칙시령일항정재진행적유리우수거방문、처리화공향적중요공작.가소원계량형원자력현미경(AFM)적발전해결료납미척도적도량문제,능구통과대표준물질진행정량분석여정표실현량치적전체.당전발전능구피계량형AFM감정적삼고물질이급표준화의기교정과정시실현SPM표준화지전적당무지급.위료촉진SPM영역ISO표준적실현,일충신적침첨특성표정결구(tip characterizer)이경피개발출래.저충tip characterizer유초정격조장기술실현,능구묘술침첨적형상병차동시진행측향척도적교정.본문탐토료저충신형tip characterizer적성능.저충tip characterizer불역손배침첨,구유흔호적중복성,병능방조실험관찰분석침첨형상화결구궤하특성지간적관계.
Standardization is an important issue in scanning probe microscopy (SPM) field. SPM standardization has been done in the framework of the International Organization for Standardization (ISO). Recent efforts and trends on SPM standardization are surveyed here. The International System of Units (SI) traceable AFMs have been developed to extend metrology to nanometre scale and enable standard materials for dimensional analysis to be directly calibrated. Efforts on developing both certified reference materials and standardized procedures for calibrating instruments are considered as an urgent pre-standardization task. A new tip characterizer based on the fabrication of superlattice for ISO standards was developed to analyze the tip shape and be used as a lateral scale while in use. Some results about the performance of this tip characterizer have been presented here. This tip characterizer makes the experimental observation of relationship between tip shape and specimen geometry possible. This tip characterizer has good reproducibility without degrading the tip during imaging.