计量与测试技术
計量與測試技術
계량여측시기술
METROLOGY & MEASUREMENT TECHNIQUE
2005年
4期
25-26
,共2页
王健%李金凤%边福强%刘欢
王健%李金鳳%邊福彊%劉歡
왕건%리금봉%변복강%류환
存储器测试%功能故障模型%March算法%BIST
存儲器測試%功能故障模型%March算法%BIST
존저기측시%공능고장모형%March산법%BIST
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷.
集成電路工藝的改進使存儲器的測試麵臨著更大的挑戰.本文從存儲器的故障模型入手著重描述瞭單耑口存儲器,字存儲器,多耑口存儲器及存儲器組的測試.測試算法和測試策略要在測試時間,故障覆蓋率,麵積開支之間進行摺衷.
집성전로공예적개진사존저기적측시면림착경대적도전.본문종존저기적고장모형입수착중묘술료단단구존저기,자존저기,다단구존저기급존저기조적측시.측시산법화측시책략요재측시시간,고장복개솔,면적개지지간진행절충.
