杨斯元%简维廷 楊斯元%簡維廷
양사원%간유정
2012년 实验设计在集成电路研发中的重要性 實驗設計在集成電路研髮中的重要性 실험설계재집성전로연발중적중요성
2010년 器件工艺可靠性测试数据比较方法的研究 器件工藝可靠性測試數據比較方法的研究 기건공예가고성측시수거비교방법적연구
2010년 斜坡电流测试应用与比较方法研究 斜坡電流測試應用與比較方法研究 사파전류측시응용여비교방법연구
2009년 基于仿真方法的可靠性试验样本大小决策 基于倣真方法的可靠性試驗樣本大小決策 기우방진방법적가고성시험양본대소결책
2009년 电迁移测试中模型参数估计方法的比较 電遷移測試中模型參數估計方法的比較 전천이측시중모형삼수고계방법적비교
2009년 统计过程控制中常见的错误 統計過程控製中常見的錯誤 통계과정공제중상견적착오
2008년 封装级电迁移可靠性截尾测试 封裝級電遷移可靠性截尾測試 봉장급전천이가고성절미측시
2007년 半导体生产测量设备的匹配 半導體生產測量設備的匹配 반도체생산측량설비적필배
2015년 大规模集成电路制造洁净厂房消防设计 大規模集成電路製造潔淨廠房消防設計 대규모집성전로제조길정엄방소방설계
2015년 高漏压低栅压条件下N型MOSFET热载流子注入效应研究 高漏壓低柵壓條件下N型MOSFET熱載流子註入效應研究 고루압저책압조건하N형MOSFET열재류자주입효응연구
2014년 双态应力薄膜整合的CMOS开关特性与可靠性研究 雙態應力薄膜整閤的CMOS開關特性與可靠性研究 쌍태응력박막정합적CMOS개관특성여가고성연구
2010년 适用于深沟槽结构观测的TEM样品制备技术 適用于深溝槽結構觀測的TEM樣品製備技術 괄용우심구조결구관측적TEM양품제비기술
2010년 栅氧化层经时击穿物理模型应用分析 柵氧化層經時擊穿物理模型應用分析 책양화층경시격천물리모형응용분석
2010년 FIB参数对低介电常数介质TEM样品制备的影响 FIB參數對低介電常數介質TEM樣品製備的影響 FIB삼수대저개전상수개질TEM양품제비적영향
2010년 "楔形"TEM样品的机械研磨制备技术 "楔形"TEM樣品的機械研磨製備技術 "설형"TEM양품적궤계연마제비기술
2010년 非挥发性记忆体Read Disturb测试方法的研究 非揮髮性記憶體Read Disturb測試方法的研究 비휘발성기억체Read Disturb측시방법적연구
2010년 超深亚微米IC的宇宙射线辐射软失效研究 超深亞微米IC的宇宙射線輻射軟失效研究 초심아미미IC적우주사선복사연실효연구
