半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2008年
2期
184-187
,共4页
胡明鹏%马冬梅%刘志祥%马磊
鬍明鵬%馬鼕梅%劉誌祥%馬磊
호명붕%마동매%류지상%마뢰
红外焦平面阵列%无效像元%噪声等效温差%三维噪声模型%3σ原则%灰度最小方差
紅外焦平麵陣列%無效像元%譟聲等效溫差%三維譟聲模型%3σ原則%灰度最小方差
홍외초평면진렬%무효상원%조성등효온차%삼유조성모형%3σ원칙%회도최소방차
提出了一种基于噪声等效温差(NETD)和灰度最小方差的红外焦平面阵列无效像元检测方法.无效像元包括过热像元和死像元.首先利用三维噪声模型建立图像数据集,然后分别判断过热像元和死像元.通过像元的噪声电压值与10倍NETD的比较来实现过热像元的判别;对于死像元的判别处理是,设计了9个不同的窗口,分别计算每个窗口的方差并选取方差最小的窗口,最后通过比较窗口中心像元灰度与均值灰度的差值是否落在3倍方差内作为评判死像元的标准.最后通过实验证明,该方法具有误判率较小,定位准确率高等特点.
提齣瞭一種基于譟聲等效溫差(NETD)和灰度最小方差的紅外焦平麵陣列無效像元檢測方法.無效像元包括過熱像元和死像元.首先利用三維譟聲模型建立圖像數據集,然後分彆判斷過熱像元和死像元.通過像元的譟聲電壓值與10倍NETD的比較來實現過熱像元的判彆;對于死像元的判彆處理是,設計瞭9箇不同的窗口,分彆計算每箇窗口的方差併選取方差最小的窗口,最後通過比較窗口中心像元灰度與均值灰度的差值是否落在3倍方差內作為評判死像元的標準.最後通過實驗證明,該方法具有誤判率較小,定位準確率高等特點.
제출료일충기우조성등효온차(NETD)화회도최소방차적홍외초평면진렬무효상원검측방법.무효상원포괄과열상원화사상원.수선이용삼유조성모형건립도상수거집,연후분별판단과열상원화사상원.통과상원적조성전압치여10배NETD적비교래실현과열상원적판별;대우사상원적판별처리시,설계료9개불동적창구,분별계산매개창구적방차병선취방차최소적창구,최후통과비교창구중심상원회도여균치회도적차치시부락재3배방차내작위평판사상원적표준.최후통과실험증명,해방법구유오판솔교소,정위준학솔고등특점.
