半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2011年
9期
726-729
,共4页
漏电流%高温反向偏压(HTRB)%加速寿命%威布尔分布%整流二极管
漏電流%高溫反嚮偏壓(HTRB)%加速壽命%威佈爾分佈%整流二極管
루전류%고온반향편압(HTRB)%가속수명%위포이분포%정류이겁관
整流器件在工作中的可靠性往往与其漏电流特别是在高温下的漏电流有密切关系,然而对高温下的漏电流往往关注不够.通过对常温与高温漏电流的对比测试,发现两者并没有一致的对应关系；通过对高温漏电流有较大差别的两组样品的高温反偏寿命试验表明:高温漏电流越大,高温反偏寿命越短,说明高温漏电流对高温反偏寿命有重要影响.依据此结果提出了通过对高温漏电流进行测试,实现对高温反偏寿命进行分档、筛选的设想.介绍了利用正向脉冲电流对二极管的pn结进行瞬态加热以实现对高温反向漏电流的快速测试的具体方法.
整流器件在工作中的可靠性往往與其漏電流特彆是在高溫下的漏電流有密切關繫,然而對高溫下的漏電流往往關註不夠.通過對常溫與高溫漏電流的對比測試,髮現兩者併沒有一緻的對應關繫；通過對高溫漏電流有較大差彆的兩組樣品的高溫反偏壽命試驗錶明:高溫漏電流越大,高溫反偏壽命越短,說明高溫漏電流對高溫反偏壽命有重要影響.依據此結果提齣瞭通過對高溫漏電流進行測試,實現對高溫反偏壽命進行分檔、篩選的設想.介紹瞭利用正嚮脈遲電流對二極管的pn結進行瞬態加熱以實現對高溫反嚮漏電流的快速測試的具體方法.
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