化工矿产地质
化工礦產地質
화공광산지질
GEOLOGY OF CHEMICAL MINERALS
2005年
1期
47-49
,共3页
赵志强%杜晓冉%李铭%胡呈祥
趙誌彊%杜曉冉%李銘%鬍呈祥
조지강%두효염%리명%호정상
X荧光仪%快速测定%低成本
X熒光儀%快速測定%低成本
X형광의%쾌속측정%저성본
X荧光分析技术具有快速测定、适合野外作业、成本低、仪器轻便等特点.运用新型X荧光仪进行样品分析,可以快速得到样品检测结果,以指导下步地质矿产勘查、工程施工等工作,大大加快工作进度、提高工程效率,对缩短地质矿产勘查周期有着重要意义.
X熒光分析技術具有快速測定、適閤野外作業、成本低、儀器輕便等特點.運用新型X熒光儀進行樣品分析,可以快速得到樣品檢測結果,以指導下步地質礦產勘查、工程施工等工作,大大加快工作進度、提高工程效率,對縮短地質礦產勘查週期有著重要意義.
X형광분석기술구유쾌속측정、괄합야외작업、성본저、의기경편등특점.운용신형X형광의진행양품분석,가이쾌속득도양품검측결과,이지도하보지질광산감사、공정시공등공작,대대가쾌공작진도、제고공정효솔,대축단지질광산감사주기유착중요의의.
