激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率
격광등밀도등경간섭조문법측정투명개질적후도화절사솔
Measuring thickness and index of refraction of transparent materials using equal-density equal-inclination interference fringe method
  • 万方数据
    物理实验 물리실험
    PHYSICS EXPERIMENTATION
    2000年 3期 38-39,41 ,共3页

    李季平%吴启元%刘小廷%蔡云良

    리계평%오계원%류소정%채운량

    迈克尔孙干涉仪%等密度等倾干涉条纹%测量 邁剋爾孫榦涉儀%等密度等傾榦涉條紋%測量
    매극이손간섭의%등밀도등경간섭조문%측량
    提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质(玻璃、薄膜等)的厚度和折射率的方法.实验证明,这种方法是正确、有效和简便的.
    제출용매극이손간섭의등밀도등경간섭조문법측정투명개질(파리、박막등)적후도화절사솔적방법.실험증명,저충방법시정학、유효화간편적.
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