半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2007年
2期
287-289,293
,共4页
无衍射光%柔性铰链%微弱电流
無衍射光%柔性鉸鏈%微弱電流
무연사광%유성교련%미약전류
在无衍射光滤波法显微成像中,实际成像光斑的能量分布直接影响成像质量.用远小于光斑的小孔对成像光斑通过柔性铰链机构进行精确的二维扫描,然后再对光电探测器输出的微弱电流信号进行转换、放大、处理,就可得到实际微光斑的能量分布.该实验方法也可用于测量其他能量规则分布或不规则分布的微光斑.
在無衍射光濾波法顯微成像中,實際成像光斑的能量分佈直接影響成像質量.用遠小于光斑的小孔對成像光斑通過柔性鉸鏈機構進行精確的二維掃描,然後再對光電探測器輸齣的微弱電流信號進行轉換、放大、處理,就可得到實際微光斑的能量分佈.該實驗方法也可用于測量其他能量規則分佈或不規則分佈的微光斑.
재무연사광려파법현미성상중,실제성상광반적능량분포직접영향성상질량.용원소우광반적소공대성상광반통과유성교련궤구진행정학적이유소묘,연후재대광전탐측기수출적미약전류신호진행전환、방대、처리,취가득도실제미광반적능량분포.해실험방법야가용우측량기타능량규칙분포혹불규칙분포적미광반.
