微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2011年
3期
470-473
,共4页
杨金孝%郭德春%陈雷%张永波%杨永坤
楊金孝%郭德春%陳雷%張永波%楊永坤
양금효%곽덕춘%진뢰%장영파%양영곤
环形振荡器%FPGA%延迟%测试
環形振盪器%FPGA%延遲%測試
배형진탕기%FPGA%연지%측시
提出一种使用环形振荡器对SRAM型FPGA内部延迟进行精确测试的方法.该方法利用SRAM型FPGA的可重构性在其内部构造环形振荡器,通过基准信号对分频后的振荡信号周期进行测量,从而得到环振回路中逻辑部件的延迟值.应用该方法,对一款Virtex-4型FPGA 的内部延迟进行测试.结果表明:在环振初始振荡频率小于芯片工作极限频率的情况下,延迟测试的误差小于1 ps,与其他检测FPGA内部延迟故障的方法相比,检测精度有很大的提高,同时,该方法对SRAM型FPGA具有较高的普遍适用性.
提齣一種使用環形振盪器對SRAM型FPGA內部延遲進行精確測試的方法.該方法利用SRAM型FPGA的可重構性在其內部構造環形振盪器,通過基準信號對分頻後的振盪信號週期進行測量,從而得到環振迴路中邏輯部件的延遲值.應用該方法,對一款Virtex-4型FPGA 的內部延遲進行測試.結果錶明:在環振初始振盪頻率小于芯片工作極限頻率的情況下,延遲測試的誤差小于1 ps,與其他檢測FPGA內部延遲故障的方法相比,檢測精度有很大的提高,同時,該方法對SRAM型FPGA具有較高的普遍適用性.
제출일충사용배형진탕기대SRAM형FPGA내부연지진행정학측시적방법.해방법이용SRAM형FPGA적가중구성재기내부구조배형진탕기,통과기준신호대분빈후적진탕신호주기진행측량,종이득도배진회로중라집부건적연지치.응용해방법,대일관Virtex-4형FPGA 적내부연지진행측시.결과표명:재배진초시진탕빈솔소우심편공작겁한빈솔적정황하,연지측시적오차소우1 ps,여기타검측FPGA내부연지고장적방법상비,검측정도유흔대적제고,동시,해방법대SRAM형FPGA구유교고적보편괄용성.
