电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2008年
12期
34-35,39
,共3页
SOC%SOB%LFSR%混合模式测试%BIST
SOC%SOB%LFSR%混閤模式測試%BIST
SOC%SOB%LFSR%혼합모식측시%BIST
随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展.系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用.SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BLST)成为人们研究的热点.文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨.
隨著集成電路深亞微米製造技術和設計技術迅速髮展.繫統芯片(SOC)作為一種解決方案得到瞭越來越廣汎的應用.SOC的測試中,內建自測試(Built.In Self-Test,BLST)成為人們研究的熱點.文中對SOC的設計特點及其BIST中的混閤模式測試進行瞭探討.
수착집성전로심아미미제조기술화설계기술신속발전.계통심편(SOC)작위일충해결방안득도료월래월엄범적응용.SOC적측시중,내건자측시(Built.In Self-Test,BLST)성위인문연구적열점.문중대SOC적설계특점급기BIST중적혼합모식측시진행료탐토.
