微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2007年
5期
756-760
,共5页
石亦欣%李蔚%俞军%程君侠
石亦訢%李蔚%俞軍%程君俠
석역흔%리위%유군%정군협
SOC%可测试性设计%扫描测试%扫描测试向量压缩技术%自动测试向量产生
SOC%可測試性設計%掃描測試%掃描測試嚮量壓縮技術%自動測試嚮量產生
SOC%가측시성설계%소묘측시%소묘측시향량압축기술%자동측시향양산생
随着集成电路规模的迅速增大,巨大的测试向量带来的测试成本压力已成为芯片产品成本考虑中一个不可忽略、甚至非常关键的要素.针对目前大规模SOC芯片测试成本高的问题,提出了一种通过测试扫描链复用来减少测试时间的方法.试验数据表明,该方法在降低测试时间的同时,保持了较高的测试覆盖率,是一种较有价值的降低SOC芯片测试成本的方法.
隨著集成電路規模的迅速增大,巨大的測試嚮量帶來的測試成本壓力已成為芯片產品成本攷慮中一箇不可忽略、甚至非常關鍵的要素.針對目前大規模SOC芯片測試成本高的問題,提齣瞭一種通過測試掃描鏈複用來減少測試時間的方法.試驗數據錶明,該方法在降低測試時間的同時,保持瞭較高的測試覆蓋率,是一種較有價值的降低SOC芯片測試成本的方法.
수착집성전로규모적신속증대,거대적측시향량대래적측시성본압력이성위심편산품성본고필중일개불가홀략、심지비상관건적요소.침대목전대규모SOC심편측시성본고적문제,제출료일충통과측시소묘련복용래감소측시시간적방법.시험수거표명,해방법재강저측시시간적동시,보지료교고적측시복개솔,시일충교유개치적강저SOC심편측시성본적방법.
