现代仪器
現代儀器
현대의기
MODERN INSTRUMENTS
2007年
3期
28-31
,共4页
唐雨钊%张晓东%孙洁林%胡钧
唐雨釗%張曉東%孫潔林%鬍鈞
당우쇠%장효동%손길림%호균
原子力显微镜%重定位成像%表面标记%程控高精度样品台系统
原子力顯微鏡%重定位成像%錶麵標記%程控高精度樣品檯繫統
원자력현미경%중정위성상%표면표기%정공고정도양품태계통
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy)已成为在纳米尺度对样品进行观察和操纵的重要工具.基于原子力显微镜观测的重定位技术提供一种微观区域内对样品处理前后原位对比观测的方法.本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统,联合使用表面双标记定位法,建立一种新的重定位方法,方便、高效地实现样品重定位AFM成像.
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy)已成為在納米呎度對樣品進行觀察和操縱的重要工具.基于原子力顯微鏡觀測的重定位技術提供一種微觀區域內對樣品處理前後原位對比觀測的方法.本文利用坐標實時顯示的程控高精度樣品檯繫統,聯閤使用錶麵雙標記定位法,建立一種新的重定位方法,方便、高效地實現樣品重定位AFM成像.
원자력현미경(Atomic Force Microscopy)이성위재납미척도대양품진행관찰화조종적중요공구.기우원자력현미경관측적중정위기술제공일충미관구역내대양품처리전후원위대비관측적방법.본문이용좌표실시현시적정공고정도양품태계통,연합사용표면쌍표기정위법,건립일충신적중정위방법,방편、고효지실현양품중정위AFM성상.
