应用虚拟仪器(VI)技术开发集成电电路闩锁测试系统
응용허의의기(VI)기술개발집성전전로산쇄측시계통
Development of the IC latch-up test system with technology of Virtual Instrument(Ⅵ)
  • 万方数据
    电子质量 전자질량
    ELECTRONICS QUALITY
    2003年 8期 53-55 ,共3页

    钟征宇

    종정우

    Ⅵ%虚拟仪器%闩锁%1atch-up%测试 Ⅵ%虛擬儀器%閂鎖%1atch-up%測試
    Ⅵ%허의의기%산쇄%1atch-up%측시
    闩锁(1atch-up)效应严重影响了CMOS集成电路的可靠性,如何对其进行快速有效地测试是很有必要的.本文主要介绍了代表了当今世界测试仪器技术发展方向的虚拟仪器技术(Ⅵ)及其在开发集成电路闩锁测试系统过程中的应用.
    산쇄(1atch-up)효응엄중영향료CMOS집성전로적가고성,여하대기진행쾌속유효지측시시흔유필요적.본문주요개소료대표료당금세계측시의기기술발전방향적허의의기기술(Ⅵ)급기재개발집성전로산쇄측시계통과정중적응용.
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