半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2000年
2期
115-117
,共3页
李红岩%石家纬%金恩顺%齐丽云%李正庭%高鼎三
李紅巖%石傢緯%金恩順%齊麗雲%李正庭%高鼎三
리홍암%석가위%금은순%제려운%리정정%고정삼
半导体激光器%电导数%筛选
半導體激光器%電導數%篩選
반도체격광기%전도수%사선
对60只670 nm可见光量子阱激光器进行电导数测试,讨论了电导数曲线及其参数与器件可靠性之间的关系,指出用m、h、b参数可以评价器件质量和可靠性.实验结果表明电导数测试是可见光半导体激光器快速筛选的好方法.
對60隻670 nm可見光量子阱激光器進行電導數測試,討論瞭電導數麯線及其參數與器件可靠性之間的關繫,指齣用m、h、b參數可以評價器件質量和可靠性.實驗結果錶明電導數測試是可見光半導體激光器快速篩選的好方法.
대60지670 nm가견광양자정격광기진행전도수측시,토론료전도수곡선급기삼수여기건가고성지간적관계,지출용m、h、b삼수가이평개기건질량화가고성.실험결과표명전도수측시시가견광반도체격광기쾌속사선적호방법.
