液晶与显示
液晶與顯示
액정여현시
CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS
2006年
4期
320-323
,共4页
魏怀鹏%李艳龙%叶文江%张志东
魏懷鵬%李豔龍%葉文江%張誌東
위부붕%리염룡%협문강%장지동
液晶显示%聚酰亚胺%静电损伤%偏光显微镜%扫描电镜%原子力显微镜
液晶顯示%聚酰亞胺%靜電損傷%偏光顯微鏡%掃描電鏡%原子力顯微鏡
액정현시%취선아알%정전손상%편광현미경%소묘전경%원자력현미경
利用偏光显微镜、扫描电镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)对聚酰亚胺(PI)表面正常区域和静电损伤区域进行系统观测.偏光显微镜的观测基于超扭曲向列相液晶显示(STN-LCD)的关态透射原理,并确定损伤区域的线度在50～100 μm.用SEM区分静电损伤引起的"白点"与尘粒引起的"白点",同时观测到电极被局域破坏,其线度沿电极边缘约20 μm.通过AFM的直接观测发现,与正常区域比较损伤区域失去了沟槽结构,但仍然保持深度在10 nm以内的二维无序凹凸结构,其原因为:损伤后PI对液晶分子取向作用失效的机制是沟槽结构的消失.
利用偏光顯微鏡、掃描電鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)對聚酰亞胺(PI)錶麵正常區域和靜電損傷區域進行繫統觀測.偏光顯微鏡的觀測基于超扭麯嚮列相液晶顯示(STN-LCD)的關態透射原理,併確定損傷區域的線度在50～100 μm.用SEM區分靜電損傷引起的"白點"與塵粒引起的"白點",同時觀測到電極被跼域破壞,其線度沿電極邊緣約20 μm.通過AFM的直接觀測髮現,與正常區域比較損傷區域失去瞭溝槽結構,但仍然保持深度在10 nm以內的二維無序凹凸結構,其原因為:損傷後PI對液晶分子取嚮作用失效的機製是溝槽結構的消失.
이용편광현미경、소묘전경(SEM)화원자력현미경(AFM)대취선아알(PI)표면정상구역화정전손상구역진행계통관측.편광현미경적관측기우초뉴곡향렬상액정현시(STN-LCD)적관태투사원리,병학정손상구역적선도재50～100 μm.용SEM구분정전손상인기적"백점"여진립인기적"백점",동시관측도전겁피국역파배,기선도연전겁변연약20 μm.통과AFM적직접관측발현,여정상구역비교손상구역실거료구조결구,단잉연보지심도재10 nm이내적이유무서요철결구,기원인위:손상후PI대액정분자취향작용실효적궤제시구조결구적소실.
