电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2001年
3期
14-19
,共6页
金属半导体场效应晶体管%参数提取%寄生电阻
金屬半導體場效應晶體管%參數提取%寄生電阻
금속반도체장효응정체관%삼수제취%기생전조
运用双指数函数模型方法分析了影响GaAs MESFET肖特基势垒结特性的各种因素,编制了结参数提取和1-V曲线拟合软件,实现了通过栅源正向I-V实验数据提取反映肖特基势垒结特性的6个结参数,其结果与实验数据吻合得很好.并对TIAl栅和TiPtAu栅GaAsMESFET进行了高温储存试验前后的结参数对比分析和深能级瞬态谱(DLTS)验证分析,证明这种结参数表征方法是进行器件特性、参数的稳定性与退化和肖特基势垒结质量研究的一种新的实用可行的分析手段.
運用雙指數函數模型方法分析瞭影響GaAs MESFET肖特基勢壘結特性的各種因素,編製瞭結參數提取和1-V麯線擬閤軟件,實現瞭通過柵源正嚮I-V實驗數據提取反映肖特基勢壘結特性的6箇結參數,其結果與實驗數據吻閤得很好.併對TIAl柵和TiPtAu柵GaAsMESFET進行瞭高溫儲存試驗前後的結參數對比分析和深能級瞬態譜(DLTS)驗證分析,證明這種結參數錶徵方法是進行器件特性、參數的穩定性與退化和肖特基勢壘結質量研究的一種新的實用可行的分析手段.
운용쌍지수함수모형방법분석료영향GaAs MESFET초특기세루결특성적각충인소,편제료결삼수제취화1-V곡선의합연건,실현료통과책원정향I-V실험수거제취반영초특기세루결특성적6개결삼수,기결과여실험수거문합득흔호.병대TIAl책화TiPtAu책GaAsMESFET진행료고온저존시험전후적결삼수대비분석화심능급순태보(DLTS)험증분석,증명저충결삼수표정방법시진행기건특성、삼수적은정성여퇴화화초특기세루결질량연구적일충신적실용가행적분석수단.
