现代测量与实验室管理
現代測量與實驗室管理
현대측량여실험실관리
ADVANCED MEASUREMENT & LABORATORY MANAGEMENT
2011年
2期
7-9,11
,共4页
X射线荧光测厚仪%测量条件%测量方法
X射線熒光測厚儀%測量條件%測量方法
X사선형광측후의%측량조건%측량방법
本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性.
本文對影響X熒光鍍層厚度測量的測量條件(準直器、測量時間、測量程式、鏡頭對焦方式)和測量方法(有無標準片校準及不同校準方法)進行分析併分組實驗,通過對測量結果的研究以選擇閤適的測量條件和測量方法來提高X熒光鍍層厚度測量的準確性和可靠性.
본문대영향X형광도층후도측량적측량조건(준직기、측량시간、측량정식、경두대초방식)화측량방법(유무표준편교준급불동교준방법)진행분석병분조실험,통과대측량결과적연구이선택합괄적측량조건화측량방법래제고X형광도층후도측량적준학성화가고성.
