传感器与微系统
傳感器與微繫統
전감기여미계통
TRANSDUCER AND MICROSYSTEM TECHNOLOGY
2008年
8期
60-62
,共3页
玻璃缺陷%线阵CCD%莫尔条纹%光学畸变
玻璃缺陷%線陣CCD%莫爾條紋%光學畸變
파리결함%선진CCD%막이조문%광학기변
玻璃缺陷检测已成为提高玻璃质量的重要技术之一,它在检测出不合格玻璃产品的同时,还能将缺陷信息传递给玻璃生产的各个流程,再对各个环节加以改进.为能够生产出高质量的玻璃和准确地获取玻璃缺陷信息,采用了一种基于莫尔条纹的玻璃缺陷检测新方法.这种检测方法不但能够检测出微小缺陷,并进行分类,还能有效地检测出玻璃的光学畸变.
玻璃缺陷檢測已成為提高玻璃質量的重要技術之一,它在檢測齣不閤格玻璃產品的同時,還能將缺陷信息傳遞給玻璃生產的各箇流程,再對各箇環節加以改進.為能夠生產齣高質量的玻璃和準確地穫取玻璃缺陷信息,採用瞭一種基于莫爾條紋的玻璃缺陷檢測新方法.這種檢測方法不但能夠檢測齣微小缺陷,併進行分類,還能有效地檢測齣玻璃的光學畸變.
파리결함검측이성위제고파리질량적중요기술지일,타재검측출불합격파리산품적동시,환능장결함신식전체급파리생산적각개류정,재대각개배절가이개진.위능구생산출고질량적파리화준학지획취파리결함신식,채용료일충기우막이조문적파리결함검측신방법.저충검측방법불단능구검측출미소결함,병진행분류,환능유효지검측출파리적광학기변.
