电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2007年
3期
21-23
,共3页
片上系统%超大规模集成电路%RAM%BIST
片上繫統%超大規模集成電路%RAM%BIST
편상계통%초대규모집성전로%RAM%BIST
本文分析了嵌入式RAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了一种新的BI ST设计方案,该设计方案具有测试生成快,节约测试成本等优点.
本文分析瞭嵌入式RAM的傳統測試方法和內建自測試(BIST)方法,提齣瞭一種新的BI ST設計方案,該設計方案具有測試生成快,節約測試成本等優點.
본문분석료감입식RAM적전통측시방법화내건자측시(BIST)방법,제출료일충신적BI ST설계방안,해설계방안구유측시생성쾌,절약측시성본등우점.
