CAJ | 학술논문

万方数据

电子技术应用 전자기술응용
APPLICATION OF ELECTRONIC TECHNIQUE
2001年 2期 34-35 ,共2页

王卫舟%吴集光%张菊鹏%祁硕王衛舟%吳集光%張菊鵬%祁碩

왕위주%오집광%장국붕%기석

介质损耗因数tgδ闪速存储体高速A/D%密封电池介質損耗因數tgδ閃速存儲體高速A/D%密封電池
개질손모인수tgδ섬속존저체고속A/D%밀봉전지

介绍了以80C196为核心的介质损耗因数自动测量系统,使用了Flash Memory和高速A/D等技术,克服了一般测量系统在反接测量时的绝缘和干扰等问题,达到了较高的测量精度。
개소료이80C196위핵심적개질손모인수자동측량계통,사용료Flash Memory화고속A/D등기술,극복료일반측량계통재반접측량시적절연화간우등문제,체도료교고적측량정도。