半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2007年
3期
252-254
,共3页
半导体器件%失效机理%贮存寿命%超期复验
半導體器件%失效機理%貯存壽命%超期複驗
반도체기건%실효궤리%저존수명%초기복험
从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了三种美国军用半导体器件长期贮存的实例.介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.
從失效機理齣髮,探討瞭半導體器件的貯存壽命,提供瞭三種美國軍用半導體器件長期貯存的實例.介紹瞭俄囉斯的規範,建議對超期複驗中的有效貯存期作必要的脩訂.
종실효궤리출발,탐토료반도체기건적저존수명,제공료삼충미국군용반도체기건장기저존적실례.개소료아라사적규범,건의대초기복험중적유효저존기작필요적수정.
