微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2008年
3期
353-357
,共5页
单粒子瞬态%软错误率%位翻转概率%错误传播概率%组合逻辑
單粒子瞬態%軟錯誤率%位翻轉概率%錯誤傳播概率%組閤邏輯
단입자순태%연착오솔%위번전개솔%착오전파개솔%조합라집
提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法.这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义.这种方法是通过对电路失效原理的分析,以及对失效概率的估计,来查找组合电路的失效位置.整个查找过程在Matlab平台上实现,用ISCAS'85基准电路进行实验,所有电路均采用0.18 μm标准CMOS工艺.结果表明,相对HSPICE随机仿真的方法,这种方法的速度提高了将近49倍,而且准确率达到94.7%.
提齣瞭一種快速、精確查找組閤邏輯電路失效位置的方法.這種方法對高輻射電路的可靠性評估很有意義.這種方法是通過對電路失效原理的分析,以及對失效概率的估計,來查找組閤電路的失效位置.整箇查找過程在Matlab平檯上實現,用ISCAS'85基準電路進行實驗,所有電路均採用0.18 μm標準CMOS工藝.結果錶明,相對HSPICE隨機倣真的方法,這種方法的速度提高瞭將近49倍,而且準確率達到94.7%.
제출료일충쾌속、정학사조조합라집전로실효위치적방법.저충방법대고복사전로적가고성평고흔유의의.저충방법시통과대전로실효원리적분석,이급대실효개솔적고계,래사조조합전로적실효위치.정개사조과정재Matlab평태상실현,용ISCAS'85기준전로진행실험,소유전로균채용0.18 μm표준CMOS공예.결과표명,상대HSPICE수궤방진적방법,저충방법적속도제고료장근49배,이차준학솔체도94.7%.
