系统工程与电子技术
繫統工程與電子技術
계통공정여전자기술
SYSTEMS ENGINEERING AND ELECTRONICS
2012年
4期
854-856
,共3页
寿命性能指数%P值检验%一致最小方差无偏估计%指数分布
壽命性能指數%P值檢驗%一緻最小方差無偏估計%指數分佈
수명성능지수%P치검험%일치최소방차무편고계%지수분포
传统的统计过程控制理论假设过程的质量特性值服从正态分布,然而在实践过程中这一假设并不成立.本文假设产品的质量特性值服从指数分布,基于定数截尾样本,用过程能力指数评估产品的寿命性能,给出寿命性能指数CL的一致最小无偏估计及其置信区间,提出一种新的方法对CL进行检验.最后通过实例表明,此检验方法不仅简单易行,而且还可以用来判断产品是否达到所要求的水平.
傳統的統計過程控製理論假設過程的質量特性值服從正態分佈,然而在實踐過程中這一假設併不成立.本文假設產品的質量特性值服從指數分佈,基于定數截尾樣本,用過程能力指數評估產品的壽命性能,給齣壽命性能指數CL的一緻最小無偏估計及其置信區間,提齣一種新的方法對CL進行檢驗.最後通過實例錶明,此檢驗方法不僅簡單易行,而且還可以用來判斷產品是否達到所要求的水平.
전통적통계과정공제이론가설과정적질량특성치복종정태분포,연이재실천과정중저일가설병불성립.본문가설산품적질량특성치복종지수분포,기우정수절미양본,용과정능력지수평고산품적수명성능,급출수명성능지수CL적일치최소무편고계급기치신구간,제출일충신적방법대CL진행검험.최후통과실례표명,차검험방법불부간단역행,이차환가이용래판단산품시부체도소요구적수평.
