红外与毫米波学报
紅外與毫米波學報
홍외여호미파학보
JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES
2012年
3期
231-234
,共4页
电子结构%Ga/N共掺杂%InSb
電子結構%Ga/N共摻雜%InSb
전자결구%Ga/N공참잡%InSb
利用基于密度泛函理论的第一性原理赝势方法,研究了Ga和N共掺杂闪锌矿InSb半导体的电子结构和电子性质.研究发现单独掺杂Ga或N对InSb带隙的影响较小.在共掺杂Ga/N的情况下,当Ga/N浓度增加时对InSb的带隙影响明显.这些理论结果对半导体材料的能带工程提供了一定的参考价值.
利用基于密度汎函理論的第一性原理贗勢方法,研究瞭Ga和N共摻雜閃鋅礦InSb半導體的電子結構和電子性質.研究髮現單獨摻雜Ga或N對InSb帶隙的影響較小.在共摻雜Ga/N的情況下,噹Ga/N濃度增加時對InSb的帶隙影響明顯.這些理論結果對半導體材料的能帶工程提供瞭一定的參攷價值.
이용기우밀도범함이론적제일성원리안세방법,연구료Ga화N공참잡섬자광InSb반도체적전자결구화전자성질.연구발현단독참잡Ga혹N대InSb대극적영향교소.재공참잡Ga/N적정황하,당Ga/N농도증가시대InSb적대극영향명현.저사이론결과대반도체재료적능대공정제공료일정적삼고개치.