电子产品加速寿命试验的一种优化设计
전자산품가속수명시험적일충우화설계
The Optimized Plan for Accelerated Life Testing of Electronic Products
  • 万方数据
    电子产品可靠性与环境试验 전자산품가고성여배경시험
    ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
    2009年 1期 4-8 ,共5页

    彭求实

    팽구실

    电子产品%指数分布%步加试验%加速寿命方程%优化设计 電子產品%指數分佈%步加試驗%加速壽命方程%優化設計
    전자산품%지수분포%보가시험%가속수명방정%우화설계
    在两个未知参数的加速方程中,设定一个约束条件,以MLE渐进方差最小为准则,给出了指数分布(电子产品寿命数据)下k≥3个应力情况失效数据分配的最优设计.
    재량개미지삼수적가속방정중,설정일개약속조건,이MLE점진방차최소위준칙,급출료지수분포(전자산품수명수거)하k≥3개응력정황실효수거분배적최우설계.
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